0018-8646/99/$3.00  (C)  1999 IBM

Author index for papers in Volume 43 

Pages are numbered consecutively through the volume: 1-240, January/March; 
241-448, May; 449-616, July; and 617-944, September/November. 


Abadeer, W. W., A. Bagramian, D. W. Conkle, C. W. Griffin, E. Langlois, B. F. 
Lloyd, R. P. Mallette, J. E. Massucco, J. M. McKenna, S. W. Mittl, and P. H. 
Noel 
407        Key measurements of ultrathin gate dielectric reliability and in-line 
monitoring 

Abbott, P. H., D. G. Brush, C. W. Clark III, C. J. Crone, J. R. Ehrman, G. W. 
Ewart, C. A. Goodrich, M. Hack, J. S. Kapernick, B. J. Minchau, W. C. Shepard, 
R. M. Smith, Sr., R. Tallman, S. Walkowiak, A. Watanabe, and W. R. White 
723        Architecture and software support in IBM S/390 Parallel Enterprise 
Servers for IEEE Floating-Point arithmetic 

Alves, L. C. 
875        see Mueller, M. 

Anderson, R. E., and E. M. Foster 
521        Design of an MPEG-2 transport demultiplexor core 

Armacost, M., P. D. Hoh, R. Wise, W. Yan, J. J. Brown, J. H. Keller, G. A. 
Kaplita, S. D. Halle, K. P. Muller, M. D. Naeem, S. Srinivasan, H. Y. Ng, M. 
Gutsche, A. Gutmann, and B. Spuler 
39         Plasma-etching processes for ULSI semiconductor circuits 

Armbrust, D. S. 
5          see Cote, D. R. 

Athavale, S. D. 
367        see Kotecki, D. E. 

Averill, R. M., III, K. G. Barkley, M. A. Bowen, P. J. Camporese, A. H. Dansky, 
R. F. Hatch, D. E. Hoffman, M. D. Mayo, S. A. McCabe, T. G. McNamara, T. J. 
McPherson, G. A. Northrop, L. Sigal, H. H. Smith, D. A. Webber, and P. M. 
Williams 
681        Chip integration methodology for the IBM S/390 G5 and G6 custom 
microprocessors 


Bagramian, A. 
407        see Abadeer, W. W. 

Baniecki, J. D. 
367        see Kotecki, D. E. 

Barkley, K. G. 
681        see Averill, R. M., III 

Bartells, J., Jr. 
621        see Katopis, G. A. 

Bearda, T. 
339        see Heyns, M. M. 

Becker, W. D. 
621        see Katopis, G. A. 

Blake, M. A. 
661        see Turgeon, P. R. 

Bolam, R. J. 
393        see Hook, T. B. 

Bond, P. W. 
829        see Hoke, J. M. 

Boroczky, L., A. Y. Ngai, and E. F. Westermann 
511        Statistical multiplexing using MPEG-2 video encoders 

Bowen, M. A. 
681        see Averill, R. M., III 

Brown, J. J. 
39         see Armacost, M. 

Brush, D. G. 
723        see Abbott, P. H. 

Buchanan, D. A. 
245        Scaling the gate dielectric: Materials, integration, and reliability 

Buchanan, D. A. 
327        see Lo, S.-H. 

Buechner, T., R. Fritz, P. Guenther, M. Helms, K. D. Lamb, M. Loew, T. Schlipf, 
and M. H. Walz 
889        Event monitoring in highly complex hardware systems 

Buhrman, R. A. 
287        see Ellis, K. A. 

Burnham, J. S. 
393        see Hook, T. B. 


Cabral, C., Jr. 
367        see Kotecki, D. E. 

Campbell, S. A., H.-S. Kim, D. C. Gilmer, B. He, T. Ma, and W. L. Gladfelter 
383        Titanium dioxide (TiO[sub]2[/sub])-based gate insulators 

Camporese, P. J. 
681        see Averill, R. M., III 

Check, M. A., and T. J. Slegel 
671        Custom S/390 G5 and G6 microprocessors 

Chencinski, E. W. 
761        see Easter, R. J. 

Clark, C. W., III 
723        see Abbott, P. H. 

Conkle, D. W. 
407        see Abadeer, W. W. 

Conti, R. A. 
5          see Cote, D. R. 

Cornelissen, I. 
339        see Heyns, M. M. 

Cote, D. R., S. V. Nguyen, A. K. Stamper, D. S. Armbrust, D. Tobben, R. A. 
Conti, and G. Y. Lee 
5          Plasma-assisted chemical vapor deposition of dielectric thin films for 
ULSI semiconductor circuits 

Crone, C. J. 
723        see Abbott, P. H. 


D'Avignon, E. J. 
761        see Easter, R. J. 

Dansky, A. H. 
681        see Averill, R. M., III 

De Gendt, S. 
339        see Heyns, M. M. 

DeCusatis, C. M., D. J. Stigliani, Jr., W. L. Mostowy, M. E. Lewis, D. B. 
Petersen, and N. R. Dhondy 
807        Fiber optic interconnects for the IBM S/390 Parallel Enterprise 
Server G5 

Degraeve, R. 
339        see Heyns, M. M. 

Dhondy, N. R. 
807        see DeCusatis, C. M. 

Doemling, M. F. 
181        see Oehrlein, G. S. 

Duncombe, P. R. 
367        see Kotecki, D. E. 


Easter, R. J., E. W. Chencinski, E. J. D'Avignon, S. R. Greenspan, W. A. Merz, 
and C. D. Norberg 
761        S/390 Parallel Enterprise Server CMOS Cryptographic Coprocessor 

Ehrman, J. R. 
723        see Abbott, P. H. 

Ellis, K. A., and R. A. Buhrman 
287        Nitrous oxide (N[sub]2[/sub]O) processing for silicon oxynitride gate 
dielectrics 

Errickson, R. K. 
795        see Gregg, T. A. 

Ewart, G. W. 
723        see Abbott, P. H. 


Fair, M. L. 
875        see Mueller, M. 

Fee, M. F. 
661        see Turgeon, P. R. 

Fischer, W. 
875        see Mueller, M. 

Fonash, S. J. 
103        Plasma processing damage in etching and deposition 

Ford, C. B., III 
661        see Turgeon, P. R. 

Foster, E. M. 
521        see Anderson, R. E. 

Frankel, J. L. 
621        see Katopis, G. A. 

Fritz, R. 
889        see Buechner, T. 


Garfunkel, E. L. 
265        see Gusev, E. P. 

Gilbert, T. E. 
915        see Van Huben, G. A. 

Gilmer, D. C. 
383        see Campbell, S. A. 

Gladfelter, W. L. 
383        see Campbell, S. A. 

Gonzales, C. A., H. Yeo, and C. J. Kuo 
453        Requirements for motion-estimation search range in MPEG-2 coded video 


Gonzales, C. A. 
489        see Mohsenian, N. 

Gonzales, C. A. 
471        see Westerink, P. H. 

Goodrich, C. A. 
723        see Abbott, P. H. 

Green, M. L. 
265        see Gusev, E. P. 

Greenspan, S. R. 
761        see Easter, R. J. 

Gregg, T. A., K. M. Pandey, and R. K. Errickson 
795        The Integrated Cluster Bus for the IBM S/390 Parallel Sysplex 

Gregg, T. A. 
863        see Spainhower, L. 

Griffin, C. W. 
407        see Abadeer, W. W. 

Grill, A. 
147        Plasma-deposited diamondlike carbon and related materials 

Groeseneken, G. 
339        see Heyns, M. M. 

Guenther, P. 
889        see Buechner, T. 

Gusev, E. P., H.-C. Lu, E. L. Garfunkel, T. Gustafsson, and M. L. Green 
265        Growth and characterization of ultrathin nitrided silicon oxide films 


Gustafsson, T. 
265        see Gusev, E. P. 

Gutmann, A. 
39         see Armacost, M. 

Gutsche, M. 
39         see Armacost, M. 

Gutsche, M. 
367        see Kotecki, D. E. 


Hack, M. 
723        see Abbott, P. H. 

Halle, S. D. 
39         see Armacost, M. 

Hamaguchi, S. 
199        Modeling and simulation methods for plasma processing 

Hatch, R. F. 
681        see Averill, R. M., III 

He, B. 
383        see Campbell, S. A. 

Heim, G. J. 
579        see Hilgendorf, R. B. 

Helms, M. 
889        see Buechner, T. 

Hess, D. W. 
127        Plasma-assisted oxidation, anodization, and nitridation of silicon 

Heyns, M. M., T. Bearda, I. Cornelissen, S. De Gendt, R. Degraeve, G. 
Groeseneken, C. Kenens, D. M. Knotter, L. M. Loewenstein, P. W. Mertens, S. 
Mertens, M. Meuris, T. Nigam, M. Schaekers, I. Teerlinck, W. Vandervorst, R. 
Vos, and K. Wolke 
339        Cost-effective cleaning and high-quality thin gate oxides 

Hilgendorf, R. B., G. J. Heim, and W. Rosenstiel 
579        Evaluation of branch-prediction methods on traces from commercial 
applications 

Hinkel, G. 
651        see Rizzolo, R. F. 

Hoffman, D. E. 
681        see Averill, R. M., III 

Hoh, P. D. 
39         see Armacost, M. 

Hoke, J. M., P. W. Bond, T. Lo, F. S. Pidala, and G. Steinbrueck 
829        Self-timed interface for S/390 I/O subsystem interconnection 

Hook, T. B., J. S. Burnham, and R. J. Bolam 
393        Nitrided gate oxides for 3.3-V logic application: Reliability and 
device design considerations 

Hsiao, R. 
89         Fabrication of magnetic recording heads and dry etching of head 
materials 


Jackson, K. M., and K. N. Langston 
847        IBM S/390 storage hierarchy-G5 and G6 performance considerations 


Kapernick, J. S. 
723        see Abbott, P. H. 

Kaplita, G. A. 
39         see Armacost, M. 

Kastenmeier, B. E. E. 
181        see Oehrlein, G. S. 

Katopis, G. A., W. D. Becker, T. R. Mazzawy, H. H. Smith, C. K. Vakirtzis, S. A. 
Kuppinger, B. Singh, P. C. Lin, J. Bartells, Jr., G. V. Kihlmire, P. N. 
Venkatachalam, H. I. Stoller, and J. L. Frankel 
621        MCM technology and design for the S/390 G5 system 

Keller, J. H. 
39         see Armacost, M. 

Kenens, C. 
339        see Heyns, M. M. 

Kihlmire, G. V. 
621        see Katopis, G. A. 

Kim, H.-S. 
383        see Campbell, S. A. 

King, G. M. 
855        see Rao, C. L. 

Knebel, D. R. 
899        see Song, P. 

Knotter, D. M. 
339        see Heyns, M. M. 

Kotecki, D. E., J. D. Baniecki, H. Shen, R. B. Laibowitz, K. L. Saenger, J. J. 
Lian, T. M. Shaw, S. D. Athavale, C. Cabral, Jr., P. R. Duncombe, M. Gutsche, G. 
Kunkel, Y.-J. Park, Y.-Y. Wang, and R. Wise 
367        (Ba,Sr)TiO[sub]3[/sub] dielectrics for future stacked-capacitor DRAM 

Krygowski, C. A. 
707        see Schwarz, E. M. 

Kunkel, G. 
367        see Kotecki, D. E. 

Kuo, C. J. 
453        see Gonzales, C. A. 

Kuo, Y., K. Okajima, and M. Takeichi 
73         Plasma processing in the fabrication of amorphous silicon 
thin-film-transistor arrays 

Kuppinger, S. A. 
621        see Katopis, G. A. 

Kusko, M. P. 
899        see Song, P. 


Laibowitz, R. B. 
367        see Kotecki, D. E. 

Lam, W.-M., and L. Lu 
545        Memory reduction for HDTV decoders 

Lamb, K. D. 
889        see Buechner, T. 

Langlois, E. 
407        see Abadeer, W. W. 

Langston, K. N. 
847        see Jackson, K. M. 

Lee, G. Y. 
5          see Cote, D. R. 

Lewis, M. E. 
807        see DeCusatis, C. M. 

Lian, J. J. 
367        see Kotecki, D. E. 

Lin, P. C. 
621        see Katopis, G. A. 

Lloyd, B. F. 
407        see Abadeer, W. W. 

Lo, S.-H., D. A. Buchanan, and Y. Taur 
327        Modeling and characterization of quantization, polysilicon depletion, 
and direct tunneling effects in MOSFETs with ultrathin oxides 

Lo, T. 
829        see Hoke, J. M. 

Loew, M. 
889        see Buechner, T. 

Loewenstein, L. M. 
339        see Heyns, M. M. 

Lu, H.-C. 
265        see Gusev, E. P. 

Lu, L. 
545        see Lam, W.-M. 

Lucovsky, G. 
301        Ultrathin nitrided gate dielectrics: Plasma processing, chemical 
characterization, performance, and reliability 


Ma, T. 
383        see Campbell, S. A. 

Mak, P. 
661        see Turgeon, P. R. 

Mallette, R. P. 
407        see Abadeer, W. W. 

Manohar, N. R., A. Mehra, M. H. Willebeek-LeMair, and M. Naghshineh 
555        A framework for programmable overlay multimedia networks 

Massucco, J. E. 
407        see Abadeer, W. W. 

Matsuo, P. J. 
181        see Oehrlein, G. S. 

Mayo, M. D. 
681        see Averill, R. M., III 

Mazzawy, T. R. 
621        see Katopis, G. A. 

McCabe, S. A. 
681        see Averill, R. M., III 

McKenna, J. M. 
407        see Abadeer, W. W. 

McNamara, T. G. 
681        see Averill, R. M., III 

McNamara, T. G. 
915        see Van Huben, G. A. 

McPherson, T. J. 
681        see Averill, R. M., III 

McPherson, T. J. 
651        see Rizzolo, R. F. 

Meaney, P. J. 
661        see Turgeon, P. R. 

Mehra, A. 
555        see Manohar, N. R. 

Mertens, P. W. 
339        see Heyns, M. M. 

Mertens, S. 
339        see Heyns, M. M. 

Merz, W. A. 
761        see Easter, R. J. 

Meuris, M. 
339        see Heyns, M. M. 

Michnowski, S. 
651        see Rizzolo, R. F. 

Minchau, B. J. 
723        see Abbott, P. H. 

Mittl, S. W. 
407        see Abadeer, W. W. 

Modi, I. 
875        see Mueller, M. 

Mohsenian, N., R. Rajagopalan, and C. A. Gonzales 
489        Single-pass constant- and variable-bit-rate MPEG-2 video compression 

Mostowy, W. L. 
807        see DeCusatis, C. M. 

Motika, F. 
899        see Song, P. 

Mueller, M., L. C. Alves, W. Fischer, M. L. Fair, and I. Modi 
875        RAS strategy for IBM S/390 G5 and G6 

Muller, K. P. 
39         see Armacost, M. 


Naeem, M. D. 
39         see Armacost, M. 

Naghshineh, M. 
555        see Manohar, N. R. 

Ng, H. Y. 
39         see Armacost, M. 

Ngai, A. Y. 
511        see Boroczky, L. 

Nguyen, S. V. 
109        High-density plasma chemical vapor deposition of silicon-based 
dielectric films for integrated circuits 

Nguyen, S. V. 
5          see Cote, D. R. 

Nigam, T. 
339        see Heyns, M. M. 

Noel, P. H. 
407        see Abadeer, W. W. 

Norberg, C. D. 
761        see Easter, R. J. 

Northrop, G. A. 
681        see Averill, R. M., III 


Oehrlein, G. S., M. F. Doemling, B. E. E. Kastenmeier, P. J. Matsuo, N. R. 
Rueger, M. Schaepkens, and T. E. F. M. Standaert 
181        Surface science issues in plasma etching 

Okajima, K. 
73         see Kuo, Y. 

Okorn-Schmidt, H. F. 
351        Characterization of silicon surface preparation processes for 
advanced gate dielectrics 


Pandey, K. M. 
795        see Gregg, T. A. 

Park, Y.-J. 
367        see Kotecki, D. E. 

Petersen, D. B. 
807        see DeCusatis, C. M. 

Pidala, F. S. 
829        see Hoke, J. M. 


Rajagopalan, R. 
489        see Mohsenian, N. 

Rajagopalan, R. 
471        see Westerink, P. H. 

Rao, C. L., G. M. King, and B. A. Weiler 
855        Integrated Cluster Bus performance for the IBM S/390 Parallel Sysplex 


Reed, C. A., and D. J. Thygesen 
533        Pseudorandom verification and emulation of an MPEG-2 transport 
demultiplexor 

Rizzolo, R. F., G. Hinkel, S. Michnowski, T. J. McPherson, and A. J. Sutcliffe 
651        System performance management for the S/390 Parallel Enterprise 
Server G5 

Rizzolo, R. F. 
899        see Song, P. 

Rosenstiel, W. 
579        see Hilgendorf, R. B. 

Rossnagel, S. M. 
163        Sputter deposition for semiconductor manufacturing 

Rueger, N. R. 
181        see Oehrlein, G. S. 


Saenger, K. L. 
367        see Kotecki, D. E. 

Schaekers, M. 
339        see Heyns, M. M. 

Schaepkens, M. 
181        see Oehrlein, G. S. 

Schlipf, T. 
889        see Buechner, T. 

Schwarz, E. M., and C. A. Krygowski 
707        The S/390 G5 floating-point unit 

Seigler, R. 
661        see Turgeon, P. R. 

Shaw, T. M. 
367        see Kotecki, D. E. 

Shen, H. 
367        see Kotecki, D. E. 

Shen, W. W. 
661        see Turgeon, P. R. 

Shepard, W. C. 
723        see Abbott, P. H. 

Sigal, L. 
681        see Averill, R. M., III 

Singh, B. 
621        see Katopis, G. A. 

Slegel, T. J. 
671        see Check, M. A. 

Smith, H. H. 
681        see Averill, R. M., III 

Smith, H. H. 
621        see Katopis, G. A. 

Smith, R. M., Sr. 
723        see Abbott, P. H. 

Smith, R. M., Sr. 
777        see Yeh, P. C. 

Song, P., F. Motika, D. R. Knebel, R. F. Rizzolo, and M. P. Kusko 
899        S/390 G5 CMOS microprocessor diagnostics 

Spainhower, L., and T. A. Gregg 
863        IBM S/390 Parallel Enterprise Server G5 fault tolerance: A historical 
perspective 

Spuler, B. 
39         see Armacost, M. 

Srinivasan, S. 
39         see Armacost, M. 

Stamper, A. K. 
5          see Cote, D. R. 

Standaert, T. E. F. M. 
181        see Oehrlein, G. S. 

Steinbrueck, G. 
829        see Hoke, J. M. 

Stigliani, D. J., Jr. 
807        see DeCusatis, C. M. 

Stoller, H. I. 
621        see Katopis, G. A. 

Sutcliffe, A. J. 
651        see Rizzolo, R. F. 


Takeichi, M. 
73         see Kuo, Y. 

Tallman, R. 
723        see Abbott, P. H. 

Taur, Y. 
327        see Lo, S.-H. 

Teerlinck, I. 
339        see Heyns, M. M. 

Thygesen, D. J. 
533        see Reed, C. A. 

Tobben, D. 
5            see Cote, D. R. 

Turgeon, P. R., P. Mak, M. A. Blake, M. F. Fee, C. B. Ford III, P. J. Meaney, R. 
Seigler, and W. W. Shen 
661        The S/390 G5/G6 binodal cache 


Vakirtzis, C. K. 
621        see Katopis, G. A. 

Van Huben, G. A., T. G. McNamara, and T. E. Gilbert 
915        PLL modeling and verification in a cycle-simulation environment 

Vandervorst, W. 
339        see Heyns, M. M. 

Venkatachalam, P. N. 
621        see Katopis, G. A. 

Vos, R. 
339        see Heyns, M. M. 


Walkowiak, S. 
723        see Abbott, P. H. 

Walz, M. H. 
889        see Buechner, T. 

Wang, Y.-Y. 
367        see Kotecki, D. E. 

Watanabe, A. 
723        see Abbott, P. H. 

Webber, D. A. 
681        see Averill, R. M., III 

Weiler, B. A. 
855        see Rao, C. L. 

Westerink, P. H., R. Rajagopalan, and C. A. Gonzales 
471        Two-pass MPEG-2 variable-bit-rate encoding 

Westermann, E. F. 
511        see Boroczky, L. 

White, W. R. 
723        see Abbott, P. H. 

Willebeek-LeMair, M. H. 
555        see Manohar, N. R. 

Williams, P. M. 
681        see Averill, R. M., III 

Wise, R. 
39         see Armacost, M. 

Wise, R. 
367        see Kotecki, D. E. 

Wolke, K. 
339        see Heyns, M. M. 


Yan, W. 
39         see Armacost, M. 

Yeh, P. C., and R. M. Smith, Sr. 
777        S/390 CMOS Cryptographic Coprocessor Architecture: Overview and 
design considerations 

Yeo, H. 
453        see Gonzales, C. A.